JEM-2010高分辨透射电子显微镜（TEM）

型号

日本电子 JEM-2010

主要规格

及技术指标

分辨率：点分辨率≤0.23nm，线分辨率=0.14nm

加速电压：220kV放大倍率：50-150万倍

最小束斑尺寸:TEM mode: 优于20nm　　EDS/NBD/CBD mode: 优于1.0nm

主要功能

及应用范围

1. 适应高分辨率、快速检测和图像分析等各种应用需求

2.空间分辨显微ATR技术，可鉴别小到3微米的样品微区域

3.高灵敏度液氮冷却MCT检测器，适用于微弱官能团检测，特别适合原位表面吸附的测定

4. 配备原位吸附反应池，适合做吡啶吸附红外光谱图，CO，CO2表面吸附红外光谱图

测试项目

  价格

备注

无机氧化物纳米材料形貌观察

180元/样

含制样、耗材，能谱+100元，电子衍射+100元

磁性无机氧化物纳米材料形貌观察

190元/样

含制样、耗材，电子衍射+150元，能谱+100元

磁性无机氧化物纳米材料高分辨观察

550元/样

含制样、耗材，电子衍射+150元，能谱+150元

金属、陶瓷样品离子减薄制样

700元/样

已预减到150微米以下

线扫

300元/样

磁性样品800元/样

Mapping

450元/样

扫描时间3小时左右，如样品扫描时间较长，按600元/小时计费，磁性样品800元/小时

免费制样为普通碳膜铜网，微栅铜网制样+20元，超薄碳膜制样+30元