FEI Tecnai G2 F20场发射透射电子显微镜（TEM）

型号

FEI Tecnai G2 F20

主要规格

及技术指标

加速电压：200kV
高分辨极靴 (S-TWIN)
点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm
STEM (HAADF)分辨率：0.19nm
电子束能量色散：<0.7eV
最大束流：>100nA；1nm束斑最大束流：>0.5nA
样品最大倾斜角：±40°
EELS (Gatan Enfina)能量分辨率：0.7eV
EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U；能量分辨率：~130eV (Mn Ka线)

材料要求

粉末或液体样品

主要功能

及应用范围

要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括：
电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射
成像：衍衬像、高分辨像 (HREM)
微区成分：EDS能谱的点、线和面分析

测试项目

  价格

备注

无机氧化物纳米材料形貌观察

200元/样

含制样、耗材，高分辨+100元，能谱+100元，电子衍射+100元

磁性无机氧化物纳米材料形貌观察

500元/样

含制样、耗材，高分辨+150元，电子衍射+150元，能谱+150元

金属、陶瓷样品离子减薄制样

700元/样

已预减到150微米以下

线扫

300元/样

磁性样品800元/样

Mapping

450元/样

扫描时间3小时左右，如样品扫描时间较长，按600元/小时计费，磁性样品800元/小时

免费制样为普通碳膜铜网，微栅铜网制样+20元，超薄碳膜制样+30元